НИЗКОТЕМПЕРАТУРНАЯ АКУСТИЧЕСКАЯ
РЕЛАКСАЦИЯ
В НАНОСТРУКТУРНОМ ТИТАНЕ ВТ1-0
Ю.А.
Семеренко, В.А. Москаленко, А.Р. Смирнов
Физико-технический
институт низких температур им. Б.И. Веркина НАН Украины
пр. Ленина 47,
61103 Харьков, Украина, e-mail: semerenko@ilt.kharkov.ua
В области
температур 5¸325К изучены
температурные зависимости декремента d(T)
и динамического модуля Юнга Е(T) нано- и
ультрамелкокристаллического Ti технической чистоты ВТ1-0. Акустические измерения
были выполнены методом резонансной механической спектроскопии с
электростатическим возбуждением свободного образца на частоте изгибных
колебаний 1.4¸3.7 кГц в
амплитудно-независимой области звуковой деформации e0~10-7.
Использованный в работе метод неразрушающей
механической спектроскопии сочетает высокую структурную чувствительность,
избирательность и точность. Исследованные
образцы в форме тонких пластин 22´4´0.1¸0.3мм были вырезаны из более массивных
холоднокатаных заготовок. В
процессе акустических измерений температура измерялась с точностью 50 мK при помощи Cu-константановой термопары, AsGa термометра и
резистивного нагревателя. Скорость изменения температуры составляла ~ 1 К/мин.
Субструктурное
состояние образцов формировалось деформированием при температурах 100 и 290 К
до значений истинных деформации e
= 1.2¸1.9 и последующих отжигов
при 525, 720 и 940 К [1]. Электронно-микроскопические
исследования показали, что внутризеренная субструктура Ti после деформации при 290 К характеризуется скоплениями
дислокаций высокой плотности, что приводит к появлению многочисленных изгибных
экстинционных контуров [1], указывая на высокий уровень внутренних напряжений.
Размер таких областей от долей микрона до нескольких микрон. В субструктуре
криодеформированного материала преобладают области когерентного рассеяния (ОКР)
размером 30¸50 нм [1]. После криодеформации e = 1.2 ОКР
наблюдаются преимущественно в виде кластеров; с увеличением степени деформации
кластеры распадается и ОКР распределяются достаточно однородно. Генезис ОКР
обусловлен процессами многократного передвойникования титана в условиях
низкотемпературной деформации [2]. Эволюция гистограмм распределения размеров
ОКР в образце ВТ1-0 после криодеформации
е=1.9 и последующих отжигов 525 и 940 К приведена в [1].
Создание деформационных микроструктур как в нанокристаллическом так и в ультрамелкокристаллическом
Ti приводит к появлению на зависимостях d(T) при температуре »230К пика Р1 (см. рис 1, 2). На зависимости E(T)
ему отвечает размытая ступенька.


Рис. 1. Температурные зависимости
декремента d(T) и динамического модуля Юнга Е(T)
нанокристаллического Ti при различной
степени криодеформации: а) е=1.2, б) е=1.82. Температурные зависимости d(T) показаны с учетом фонового поглощения.
Повышение
степени деформации приводит к уширению и увеличению амплитуды пика Р1,
в нанокристаллических образцах амплитуда пика Р1 существенно выше.
Серия отжигов при 525, 720 и 940К последовательно снижает (вплоть до исчезновения)
высоту пика и температуру локализации. Пик Р1 существенно шире
дебаевского пика и является частотно зависимым – при повышении частоты
механических колебаний образца он сдвигается в область более высоких
температур, что говорит о его термоактивируемом характере. Оценки активационных
параметров Р1: энергия активации U»0.38 эВ и период попыток t0»2·10-13с
согласуются с [3]. Совокупность свойств Р1 свидетельствует о его дислокационно-деформационной
природе и высокой структурной чувствительности системы релаксаторов, ответственных
за возникновение пика. Различия в характере формируемых микроструктур материала,
обусловленные различными механизмами деформации при 100 К и 290 К, позволяют
говорить об отсутствии связи этого релаксационного резонанса с внутризеренной
микроструктурой. Экспериментально полученные значения активационных параметров
являются типичными для так называемых пиков Коивы-Хасигутти [4] связанных с
процессом термоактивированного отрыва дислокационного сегмента от локального
структурного дефекта в качестве которого могут выступать примесные и межузельные
атомы, вакансии. В этом случае U имеет
смысл энергии активации открепления, а t0 – периода
колебаний сегмента дислокации, непосредственно взаимодействующего с дефектом.
При повышении температуры наблюдается рост фонового
поглощения. Принимая во внимание высокую температурную чувствительность
фонового поглощения, можно считать его частично обусловленным неконсервативным
вязким движением дислокаций [5].
Криодеформированные образцы обладают рядом особенностей:
1) в области 43¸78К наблюдается
пик поглощения Р2. Увеличение степени криодеформации приводит к
сужению пика Р2 и снижению температуры его локализации. Отжиг при
525 К снижает высоту и температуру локализации пика Р2. После отжига
при 720 К пика Р2
практически не наблюдается. Пик Р2 также является частотно зависимым
– при повышении частоты механических колебаний образца он сдвигается в область
более высоких температур, что говорит о его термоактивируемом характере. Оценки
активационных параметров пика Р2 U»0.03 эВ и t0»2·10-11с.
Такие значения активационных параметров характерны для процесса преодоления
дислокациями рельефа Пайерлса по механизму термоактивированного зарождения
парных перегибов (кинков), т.е. этот пик аналогичен пикам Бордони в ГЦК кристаллах
[6]. Следует отметить, что пик аналогичный Р2 был зарегистрирован в
наноструктурном Zr [7] полученном интенсивной пластической деформацией. 2) в области
низких температур в криодеформированных образцах модуль упругости Е на DЕ
»0.8-1.2%
меньше чем в отожженных образцах, при этом величина DЕ тем больше чем
больше степень криодеформации. Отжиг при 525 К снижает DЕ, а после отжига при 720 К
низкотемпературные части температурных зависимостей Е(T) криодеформированных и отожженных образцов
практически совпадают.
1.
В.А. Москаленко, А.Р.
Смирнов, А.В. Москаленко, ФНТ 35, №11,
1160 (2009).
12.2. V.A. Moskalenko, V.I.
Startsev, V.N. Kovaleva, Cryogenics 20, 507 (1980).
3. I.S. Golovin, T.S. Pavlova, S.B. Golovina, H.-R. Sinning,
4. M.Koiwa, R.R. Hasiguti, Acta Met., 13, 1219 (1965).
5. В.С. Постников, Внутреннее трение в металлах, Металлургия, Москва (1974).
6.
А. Зегер, П. Шиллер, в кн. Физическая акустика, т. III, ч. А., Мир, Москва
(1969).
7.
Е.Н. Ватажук, П.П. Паль-Валь, В.Д. Нацик, Л.Н. Паль-Валь,
М.А. Тихоновский,
А.Н. Великодный. П.А. Хаймович, ФНТ 37, №2, 210-220 (2011).